倒置金相显微镜，由于试样观察面向下与工作台表面重合，观察物镜位于工作台的下面，向上观察，这种观察形式不受试样高度的限制，在制备试样时只要一个观察面平整，因此工厂实验室、科研机构院校教学普遍选用。倒置金相显微镜底座支承面积较大，重心较低，安全平稳可靠，目镜与支承面呈45℃倾斜，观察舒适。 

　　正置金相显微镜具有和倒置金相显微镜同样的基本功能，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，因为符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便。除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。