扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope）简称扫描电镜或SEM，是利用聚焦电子束在试样上扫描时，激发的某些物理信号来调整一个同步扫描的显像管在相应位置的亮度而成像的一种显微镜。 扫描电镜由电子光学系统（电子枪、电磁透镜、扫描线圈、消像散器、光圈、试样室），信号收集及显示系统，真空系统，电源系统及控制系统等部分组成。 工作原理：从电子枪发射出来的电子束，经两级聚束镜、偏转线圈和物镜射到试样上。由于高能电子束与试样物质的交互作用，结果产生了各种信号。这些信号被相应的接受器接受，经放大器放大后，送到显像管的栅极上，调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的偏转线圈上的电流同步，因此试样表面任意点发射的信号与显像管荧光屏上相应的亮度一一对应。即电子束打到试样上一点时，在显像管荧光屏上出现一个亮度。而我们所要观察试样一定区域的特征，扫描电镜则是采用逐点成像的图像分解法显示出来的。 自从1935年德国Knoll等人提出了扫描电镜工作原理至今，70年来扫描电镜得到了迅速的发展，种类不断增多，性能日益提高，被广泛应用在材料学、生物学、医学、物理学、化学等多个领域。 在淀粉研究中使用极为广泛，成为一种有效的理化工具，可以用它进行这种形式的图像观察、元素分析和晶体结构分析。

如淀粉形态观察:（木薯原淀粉）以及元素测定：(酯化交联淀粉颗粒表面磷元素）