问题是，如何看待探针尺寸与形状对测量结果的影响？先说结论，探针确实会影响测量结果。

<<上图模拟的是，曲率半径为10nm和100nm的探针，对于粗糙样品形貌的扫描情况。很明显，下图曲率半径较大的探针在样品表面扫描的轨迹，与样品形貌相差较多。

从G.Binning和H.Rohrer两位老先生在1985年发明原子力显微镜开始，经过多年的发展至今，科学家们已经将原子力显微镜发展为了一个平台，而并非简单的显微镜。下图列举一些我知道的原子力显微镜的探针的形状，原子力显微镜的功能至多，探针形状之复杂，是很难将全部形状都探讨到的。

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另一方面，探针针尖在不同方向上的倾斜角度不同，这会造成扫描角度（探针针尖运动方向与样品X方向水平夹角）不同时候，扫描的结果可能略有不同。

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<至于，扫描角度是否会影响成像结果，一个简便的方法是，把扫描角度增加90度，如果得到的图像基本一致，则可以认为结果没有收到倾角影响。

<上图是一个例子，看出左图中样品颗粒明显变大了，遇到这种情况最简便的方法就是换一根新探针，至于由于扫描参数导致的图像错误，或者探针的保养问题，限于篇幅先不展开说明了。

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如果不买新探针有没有办法呢，还是有的。AFM扫描样品的过程中，呈现出的图像形貌，是探针和样品相互综合总用的结果，而并非简单的样品形貌。我们利用这一点，可以用标准样品测定探针的参数，从而校正针尖的形状与尺寸造成的影响。

<上六幅图为同样一个样品的同样一个区域。上图第两行图像，从左到右依次为随扫描次数增加，样品的形貌。

第一行，使用较为合适的扫描参数，使得探针没有严重磨损，不同扫描次数的扫描结果基本一致。第二行，扫描参数有一些问题，我们增大了探针与样品之间的作用力，探针磨损较为严重，因此，扫描次数增加时，扫描的图像较为模糊。

利用这种方法，可以计算出探针针尖的尺寸。

<样品为已知样品（一般为粗糙的金属钛），带有尖锐的棱角，棱角的平均尺寸与形状默认已知。可以用系统自带的Tip Qualification模式计算出探针的曲率半径。将曲率半径带入到扫描模式中，就可以在一定程度上消除尺寸带来的误差了，机器可以自动计算探针的卷积效应。