一．偏光显微镜的特点    偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨清楚，当然这些物质也可用染色发来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。偏光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物，化学等领域。在生物学和植物学也有应用。

二．偏光显微镜的基本原理

偏光显微镜的原理比较复杂，在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件（a）起偏镜 （b）检偏镜 （c）专用无应力物镜 （d）旋转载物台。

三． 偏光镜检术的方式

（一） 正相镜检（Orthscope）：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜（Bertrand Lens）,同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。

（二） 锥光镜检（Conoscope）：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。

四． 偏光显微镜在装置上的要求

（一） 光源：采用单色光，因为光的速度，折射率，和干涉现像因波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。

（二） 目镜：要带有十字线的目镜。

（三） 聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。

（四） 伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。

五． 偏光显微镜检术的要求

（一） 载物台的中心与光轴同轴。

（二） 起偏镜和检偏镜应处于正交位置。（三） 制片不宜过薄。