传统的光学显微镜的空间分辨率受到半波长衍射的限制。散射式扫描近场光学显微镜（s-SNOM）即无孔SNOM,可以突破这一局限.它可以克服有孔式SNOM的所有制约，如光纤、小孔、定制探针结构及其他缺点。

     NeaSNOM采用标准镀金属AFM探头，用镭射光进行照射。 经照射的探头在其顶端形成一个纳米级焦点，即行程一个极小光源，再通过它对样品进行局部扫描。扫描样品表面时，通过记录探头形成的散射光，实现光学成像。利用原子力显微镜的探针针尖当散射源，来增强在针尖前端与样品间的局限电场。藉由外差干涉、探针调制及光路设计等技术，可同时于多波长下记录地貌、近场光场强度及相位影像。这项技术能够用以探测纳米材料的光学特性及因纳米结构所产生的电磁场变化，s-SNOM对于您在纳米科技的发展将能够作出重大贡献。