原子力显微镜的最新检测成像技术

　　相位成像(Phase Imaging)技术

　　相位检测成像是指在轻敲模式扫描过程中通过记录驱动微悬臂周期性振荡的信号与微悬臂响应信号的相位差值,即相位滞后角的变化来对所观察样品表面进行成像的一种新的成像检测技术[4]。它是Tappingmode AFM应用技术的一种重大突破,能够提供其它模式所不能揭示的有关样品表面结构在纳米尺度上的变化信息,如表面组分、粘附性、摩擦、粘弹性的变化等。

　　Interleave/Lift Mode成像技术

　　Interleave/Lift Mode技术是在检测成像较弱的长程作用力如磁力、静电力等基础上发展起来的一种成像操作技术。其工作原理同非接触模式有些相似,但探针针尖有所不同,测量磁力的磁力显微镜(MFM)需采用磁性针尖,测量电场力(静电力)的电场力显微镜(AFM)要使用导电性针尖。而且操作时,针尖与样品间距要比非接触模式间距(5~20 nm)大,一般为10~200 nm。进行成像操作时,每条扫描线上都进行2次扫描测量(每1次又都包括trace和retrace)。该技术在进行磁性材料等研究方面是一种很有力的实验技术,它具有高分辨率、不破坏样品及样品无需特别制备等特点