扫描电子显微镜最基本的像能是二次电子像。它反映样品表面的立形貌。由样品的低参差、凹凸不平，电子束照射到样品上，不同点的作用角不同，此造激发的二次电子数不同；再由入射方向的不同，二次电子向空间散射的角度和方向也不同，此在样品凸出部分和面向检测器方向的二次电子就多些，而样品凹处和背向检测器方向的二次电子就少一些；总之，样品的低、形状、位置、方向等这些与表面形貌密切相的性质，变了不同强度的二次电子信息。电子束逐点扫描产生不同数量的二次电子，依次在荧光屏上显出亮暗不同的点，也就是相应的像素。再由这些素组了完整的二次电子图像。

　　1、荷电效应

　　当入射电子作用样品时，从样品上会发出二次电子，其发射率会随入射电子的加速电压而变化。

　　2、损伤

　　扫描电子显微镜观测时，样品可能受到的损伤有：

　　(1) 真空损伤。 生物样品从大气中放入真空中时，就会产生真空损伤，是由样品干燥引起的。

　　(2) 电子束损伤。 电子束的能量引起照射点的局部加热、化学结合的破坏等，造样品的破裂或局部漂移。

　　减少损伤常用方法有：

　　(1) 临界点干燥法。 此法能快速干燥样品，减少样品收缩变形。

　　(2) 降低加速电压及较小电子束流。

　　(3) 加厚喷镀金属膜。

　　3、边缘效应

　　样品表面凹凸变化大的边缘区域，二次电子散射区域与样品表面接近的面积增大，结果使边缘区域二次电子发射异常地增加。在图像中这些区域特别亮，造不自然地反差，称为“边缘效应”。这虽然并非由操作引起地图像缺陷，但可通过适当地操作尽量减少。方法是降低加速电压，这可以使边缘效应相对减轻。

　　4、结束语

　　荷电效应、损伤、边缘效应为扫描电子显微镜图像常见的图像缺陷，这些缺陷一些是人为素产生，一些则是由扫描电子显微镜像原理而不可避免产生，但我们都能通过一定的方法，如导电法、降低电压法、快速观测法等等而消除或减少图像缺陷的产生。在实际操作中，对不同的图像缺陷，灵活采用各种不同的方法，反复实验，并总结、分析各种方法的优劣，才能拍摄出更好、更真实的图片。