上海显微镜厂

上海显微镜厂家
首页 > 技术资料 > 原子力显微镜的原理详述

原子力显微镜的原理详述

2018-07-31 | 来源:
原子力显微镜的原理详述如下图所示,激光束经过光学系统聚焦在微悬臂(Cantilever)背面,并从微悬臂背面反射到位置检测器(Detector)。在样品扫描时,由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力,微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏,反射光束也将随之偏移,因而,通过检测光斑位置的变化,就能获得被测样品表面形貌的信息。在系统检测成像全过程中,探针和被测样品间的距离始终保持在纳米量级,距离太大不能获得样品表面的信息

原子力显微镜的原理详述

如下图所示,激光束经过光学系统聚焦在微悬臂(Cantilever)背面,并从微悬臂背面反射到位置检测器(Detector)。在样品扫描时,由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力,微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏,反射光束也将随之偏移,因而,通过检测光斑位置的变化,就能获得被测样品表面形貌的信息。

在系统检测成像全过程中,探针和被测样品间的距离始终保持在纳米量级,距离太大不能获得样品表面的信息,距离太小会损伤探针和被测样品,反馈回路(Feedback)的作用就是在工作过程中,由探针得到探针与样品相互作用的强度,来改变加在样品扫描器垂直方向的电压,从而使样品伸缩,调节探针和被测样品间的距离,反过来控制探针与样品相互作用的强度,实现反馈控制。

 

责任编辑:    本文来源:

相关文章阅读

行业应用解决方案仪器回答新闻资讯联系我们公司简介搜索词语行业词组售后服务免责声明资质证书商务合作访客建议
地址:上海市浦东大道2440号5楼 电话:68610355 400-6263-599 传真:021-50353995 邮箱:sales@xianweijing.com
Copyright 2004-2021 xianweijing.com All Rights Reserved. 沪ICP备05004570号 沪公网安备31011502009251号 访问统计:200000 支持:仪器网yiqi.com 管理入口