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场发射扫描电子显微镜技术参数
2018-06-28 | 来源:
场发射扫描电子显微镜可对金属、陶瓷、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行观察和分析研究。具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。本文主要为大家介绍一下场发射扫描电子显微镜技术参数、主要用途及应用范围。SIGMA500场发射扫描电子显微镜技术参数分辨率:0.8nm@15kV1.6nm@1kV放大
场发射扫描电子显微镜可对金属、陶瓷、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行观察和分析研究。具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子象、反射电子象观察及图像处理。本文主要为大家介绍一下场发射扫描电子显微镜技术参数、主要用途及应用范围。
SIGMA500场发射扫描电子显微镜技术参数
分辨率: 0.8nm@15kV 1.6nm@1kV
放大倍数:10-1,000,000×
加速电压:调整范围:0.02-30kV(无需减速模式实现)
探针电流: 4pA-20nA(40nA&100nA可选)
低真空范围:2-133Pa(Sigma500可用)
样品室: 358mm(φ),270.5mm(h)
样品台:5轴优中心全自动
X=125mm(可选130mm)
Y=125mm(可选130mm)
Z=50mm
T=-10º-90º
R=360º连续
系统控制:基于Windows7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制
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