今天我们来看看，作为前沿科学，原子力显微镜应用场景有哪些。先简单介绍一下，这是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。根据激励模式，AFM结构可以经历垂直弯曲，横向弯曲，扭转，延伸以及这四个变形之间的耦合的变形形状。作为微米级的小结构，诸如范德华力，表面应力，静电力和残余应力之类的力会对AFM挠度产生重大影响。当AFM针尖与样品表面接触时，根据针尖的几何形状，AFM操作模式以及针尖，样品表面的材料特性，需要不同的接触力学模型。

　　如今，原子力显微镜通常用于提取样品材料的性能，例如杨氏模量，表面能/粘附力和粘度。如何正确地模拟具有不同变形的AFM结构及其在不同力和针尖-样品表面相互作用下的耦合，对于正确地将实验测量数据与样品表面材料属性联系起来至关重要。本章回顾了有关AFM结构(静态)变形，外部残余力建模，尖端表面接触和AFM动力学的各种模型。本文旨在简要介绍原子力显微镜应用场景有哪些，而不是对其深入的讨论。

　　在半导体工业领域，AFM可以检测基片表面抛光缺陷、图形化结构、薄膜表面形貌以及定量的表面粗糙度数据和深度信息，同时可以检测表面缺陷(比如电流泄漏、结构缺陷、晶格错位、缺陷密度和传播等)以及表面阻抗、电势分布、介电常数、掺杂浓度等，有利于半导体材料的可靠性、均一性和失效性分析。

　　在电化学领域，AFM可以原位研究电化学的沉积过程，揭示电化学的反应机理;可以原位研究金属腐蚀过程，有助于解决金属腐蚀机理;结合手套箱，可以原位研究锂电池充放电过程，有利于提高电池效率。

　　生命科学领域，AFM不但可以原位检测溶液下DNA，蛋白，细胞的精细结构，还可以对其进行力学和电学性质的测量，获得生物样品的杨氏模量以及阻抗特性。结合是德科技专利分子识别技术，可以帮助研究人员快速识别分子级别的相互作用。

　　但是，对于不同的原子力显微镜应用场景，主要因素是多种多样的，因此将为一种AFM应用开发的模型转移到另一AFM应用可能是不合适的，甚至是错误的。因此，对模型假设的分析在将针对特定应用场景开发的一个模型应用于其他应用程序中扮演着重要角色。