如何用电子显微镜观察清楚
扫描电子显微镜(sem)更重要的功能是观察和分析样品的微观形貌。如何获得清晰、实用的形象才是终的目标。为了获得良好的图像,显微镜物镜供应商结合现有数据,总结了以下步骤:
(1) 在较低的放大倍数下,可在流动取样阶段找到待分析、放大和聚焦的样品。较简单的方法是找出边界明显的特征点,利用对比度、亮度、放大倍数和焦距来制作图像。尽可能清楚,然后根据样本寻找或选择感兴趣的分析点。
(2) 旋转样品台或通过旋转光栅中图像组的角度选择适当的放大倍数。另外,为了拍出好照片,我们不仅要解释问题的学术价值,还要考虑全景的美。
显微镜
(3) 在原有放大倍数的基础上,使散焦倍率和倍率更有效。这时,你可以选择缩小要聚焦的区域。屏幕上会有一个小区域。在这个小范围内,扫描速度更快,这有助于确定入射角。只有将焦距调整到正焦距,入射光束的低焦或过焦才能使图像模糊,每小时消除快速散光,使图像细节清晰。
(4) 调整感兴趣的分析区域的对比度和亮度,使整个视野的衬里不仅具有清晰的黑白水平,而且还保持适当的对比度,使表面层次和细节丰富。否则,如果图像变暗,请减少暗部的细节。过饱和或过暗会降低亮度,导致细节丢失。
观测10000次以上时,必须消除像散,然后对焦。当焦距较低时,焦距过大,垂直方向细长,焦距不伸长,但不明显。聚焦在正片上,调整散光的时间、位置和大小,直到图像清晰。如果图像被拉长,散光被消除。此时,由于扫描E,聚焦完成。电子显微镜的焦距改变了放大倍数。因此,对焦时间一般是放大倍数的2-3倍,或者是观察次数的倍数,这样更容易判断是否为正。用于调整图像的焦距旋钮更清晰。移动样品后,样品将达到一定高度。
如果象散或大振幅像散装置不能以较低的速率改变像散的振幅或方向,则必须考虑电子束轴是否损坏,光学棒是否严重污染,样品是否为磁性,电子光通道中是否有杂质,或者有问题的时候,应该有针对性地进行处理,进行正常的观察和分析。
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