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真空集成的低温STM/AFM显微镜,解决样品非原位测试

2017-08-09 | 来源:
互联的无液氦低温STM/AFM(PanScanFreedom-LT)与MBE系统PanScanFreedom-LT因其优异的隔振性能,以及无液氦制冷的操作简便性,非常适合在复杂超高真空系统中进行集成。即使实验环境中有机械泵,分子

互联的无液氦低温STM/AFM(PanScan Freedom-LT)与MBE系统 

    PanScan Freedom-LT因其优异的隔振性能,以及无液氦制冷的操作简便性,非常适合在复杂超高真空系统中进行集成。即使实验环境中有机械泵,分子泵,冷凝泵,以及空气压缩机等强噪声源,PanScan Freedom-LT仍然能够保持极低的噪音水平,得到原子级分辨图像。中科院张建军教授课题组集成的半导体薄膜MBE以及PanScan Freedom-LT(低温STM/AFM),具备表面材料zui*的制备和表征手段,是研究薄膜材料和微纳器件的强大武器。

     此次真空互联解决了样品非原位传输过程中样品易受外界环境污染的问题,为获取高质量的实验结果提供了有力保证。我们期待张建军教授课题组在未来的科学研究工作中取得更大的成就!

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