相位差显微镜　　相位差显微镜的结构：　　相位差显微镜，是应用相位差法的显微镜。因此，比通常的显微镜要增加下列附件：　　（1） 装有相位板（相位环形板）的物镜，相位差物镜。　　（2） 附有相位环（环形缝板）的聚光镜，相位差聚光镜。　　（3） 单色滤光镜-（绿）。　　各种元件的性能说明　　（1） 相位板使直接光的相位移动 90°，并且吸收减弱光的强度，在物镜后焦平面的适当位置装置相位板，相位板必须确保亮度，为使衍射光的影响少一些，相位板做成环形状。　　（2） 相位环（环状光圈）是根据每种物镜的倍率，而有大小不同，可用转盘器更换。　　（3） 单色滤光镜系用中心波长546nm（毫微米）的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。相位板用特定的波长，移动90°看直接光的相位。当需要特定波长时，必须选择适当的滤光镜，滤光镜插入后对比度就提高。此外，相位环形缝的中心，必须调整到正确方位后方能操作，对中望远镜就是起这个作用部件。视频显微镜　　将传统的显微镜与摄象系统，显示器或者电脑相结合，达到对被测物体的放大观察的目的。　　zui早的雏形应该是相机型显微镜，将显微镜下得到的图像通过小孔成象的原理，投影到感光照片上，从而得到图片。或者直接将照相机与显微镜对接，拍摄图片。随着CCD摄像机的兴起，显微镜可以通过其将实时图像转移到电视机或者监视器上，直接观察，同时也可以通过相机拍摄。80年代中期，随着数码产业以及电脑业的发展，显微镜的功能也通过它们得到提升，使其向着更简便更容易操作的方面发展。到了90年代末，半导体行业的发展，晶圆要求显微镜可以带来更加配合的功能，硬件与软件的结合，智能化，人性化，使显微镜在工业上有了更大的发展。荧光显微镜　　在萤光显微镜上，必须在标本的照明光中，选择出特定波长的激发光，以产生萤光，然后必须在激发光和萤光混合的光线中，单把萤光分离出来以供观察。因此，在选择特定波长中，滤光镜系统，成为极其重要的角色。　　萤光显微镜原理：　　（A） 光源：光源幅射出各种波长的光（以紫外至红外）。　　（B） 激励滤光源：透过能使标本产生萤光的特定波长的光，同时阻挡对激发萤光无用的光。　　（C） 萤光标本：一般用萤光色素染色。　　（D） 阻挡滤光镜：阻挡掉没有被标本吸收的激发光有选择地透射萤光，在萤光中也有部分波长被选择透过。 以紫外线为光源，使被照射的物体发出荧光的显微镜。电子显微镜是在1931年在德国柏林由克诺尔和哈罗斯卡首先装配完成的。这种显微镜用高速电子束代替光束。由于电子流的波长比光波短得多，所以电子显微镜的放大倍数可达80万倍，分辨的zui小极限达0.2纳米。1963年开始使用的扫描电子显微镜更可使人看到物体表面的微小结构。　　显微镜被用来放大微小物体的图像。一般应用于对生物、医药、微观粒子等观测。　　（1）利用微微动载物台之移动，配全目镜之十字座标线，作长度量测。　　（2）利用旋转载物台与目镜下端之游标微分角度盘，配全合目镜之址字座标线，作角度量测，令待测角一端对准十字线与之重合，然后再让另一端也重合。　　（3）利用标准检测螺纹的节距、节径、外径、牙角及牙形等尺寸或外形。　　（4）检验金相表面的晶粒状况。　　（5）检验工件加工表面的情况。　　（6）检测微小工件的尺寸或轮廓是否与标准片相符。偏光显微镜　　偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。　　（1）偏光显微镜的特点　　将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域，在生物学和植物学也有应用。　　（2）偏光显微镜的基本原理　　偏光显微镜的原理比较复杂，在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件：起偏镜，检偏镜，补偿器或相位片，无应力物镜，旋转载物台。超声波显微镜　　超声波扫描显微镜的特点在于能够的反映出声波和微小样品的弹性介质之间的相互作用，并对从样品内部反馈回来的信号进行分析！图像上（C-Scan）的每一个象素对应着从样品内某一特定深度的一个二维空间坐标点上的信号反馈，具有良好聚焦功能的Z.A传感器同时能够发射和接收声波信号。一副完整的图像就是这样逐点逐行对样品扫描而成的。反射回来的超声波被附加了一个正的或负的振幅，这样就可以用信号传输的时间反映样品的深度。用户屏幕上的数字波形展示出接收到的反馈信息（A-Scan）。设置相应的门电路，用这种定量的时间差测量（反馈时间显示），就可以选择您所要观察的样品深度。