（1）扫瞄电子显微镜SEM（SCANNINGELECTRONMICROSCOPE）—由光学系统及扫瞄系统,信号检测系统和图像显示系统,记录系统等组成.电子束从电子枪射出后，经磁透镜聚焦，并受到两组扫描线圈的偏转作用，然后投射到试样上作光栅状扫描的细电子束，在显像管的荧光屏得到图像信息。其图像立体感强，试样厚度无限制。　　　　（2）透射电子显微镜TEM（TRANSMISSIONELECTRONMICROSCOPE）—由电子枪,聚光镜等成像系统及图像和记录系统组成.　　　　（3）扫瞄隧道显微镜STM（SCANNINGTUNNELLINGMICROSCOPE）　　　　（4）原子力显微镜AFM（ATOMICFORCEMICROSCOPE）　　　　（5）偏振光显微镜（POLARIZEDMICROSCOPE）—能使光线产生偏振,并在偏振之下观察微细结构的显微镜.可测量纤维的双折射和取向度。