首页 >
技术资料 > 显微镜下确定MEMS传感器的裂纹
显微镜下确定MEMS传感器的裂纹
2018-06-29 | 来源:
裂纹大多数裂纹都可以在光学显微镜下看到,但是,在某些情况下,由于分辨率的局限性,细的“发际线”裂缝是不可见的。常见的检查方法/设备:探针台电性测试声学显微镜基于探针的微机械测试
裂纹
大多数裂纹都可以在光学显微镜下看到,但是,在某些情况下,由于分辨率的局限性,细的“发际线”裂缝是不可见的。
常见的检查方法/设备:
探针台电性测试
声学显微镜
基于探针的微机械测试
责任编辑: 本文来源:
相关文章阅读
相关产品
热门客户案例
相关产品