上海显微镜厂

上海显微镜厂家
首页 > 技术资料 > 扫描原子力显微镜(AFM)

扫描原子力显微镜(AFM)

2018-06-29 | 来源:
扫描原子力显微镜(AFM)可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。

扫描原子力显微镜(AFM)可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。

责任编辑:    本文来源:

相关文章阅读

行业应用解决方案仪器回答新闻资讯联系我们公司简介搜索词语行业词组售后服务免责声明资质证书商务合作访客建议
地址:上海市浦东大道2440号5楼 电话:68610355 400-6263-599 传真:021-50353995 邮箱:sales@xianweijing.com
Copyright 2004-2021 xianweijing.com All Rights Reserved. 沪ICP备05004570号 沪公网安备31011502009251号 访问统计:200000 支持:仪器网yiqi.com 管理入口