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原子力显微镜(AFM)综述
2018-07-31 | 来源:
原子力显微镜(AFM)综述最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是STM的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整,而使STM使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力,所以又被称为原子力显微镜。AFM可适用于各种的物品,如金属材料、高分子聚合物、生物细胞等,并可以操作在大气、真空、电性及液相等环境,进行不同物性
原子力显微镜(AFM)综述
最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是 STM 的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整, 而使 STM 使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM 是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力,所以又被称为原子力显微镜。AFM 可适用于各种的物品,如金属材料、高分子聚合物、生物细胞等,并可以操作在大气、真空、电性及液相等环境,进行不同物性分析,所以AFM 最大的特点是其在空气中或液体环境中都可以操作, 因此,AFM 在生物材料、晶体生长、作用力的研究等方面有广泛的应用。根据针尖与样品材料的不同及针尖-样品距离的不同,针尖与样品之间的作用力可以是原子间斥力、范德瓦尔斯吸引力、弹性力、粘附力、磁力和静电力以及针尖在扫描时产生的摩擦力。通过控制并检测针尖与样品之间的这些作用力,不仅可以高分辨率表征样品表面形貌,还可分析与作用力相应的表面性质:摩擦力显微镜可分析研究材料的摩擦系数;磁力显微镜可研究样品表面的磁畴分布,成为分析磁性材料的强有力工具;利用电力显微镜可分析样品表面电势、薄膜的介电常数和沉积电荷等。另外,AFM 还可对原子和分子进行操纵、修饰和加工,并设计和创造出新的结构和物质。
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