原子力显微镜探针、原子力显微镜及探针的制备方法。原子力显微镜探针包括探针本体和设置在探针本体的针尖一侧的接触体，接触体具有连接段和接触段，接触段具有接触端面；接触段为二维材料，且接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。本发明专利技术的原子力显微镜探针可精确地检测受测样品的各种性质。

介绍

随着微米纳米科学技术尤其是原子力显微技术的发展，原子力显微镜在微观结构的观察成像、微观结构的表征以及受测样品的光热力电声等理化性能的探测中起着越来越重要的影响。现有的原子力显微镜利用微悬臂感受和放大微悬臂上的探针与受测样品原子之间的作用力，以达到检测的目的。但是现有的原子力显微镜探针与受测样品相接触的面为非平面，其相接触的面的曲率半径的实际值和标称值会有偏差，导致无法精确地检测受测样品的各种性质，严重限制了原子力显微镜的发展。因此，如何提供一种可精确地检测受测样品的各种性质的原子力显微镜探针成为本领域亟需解决的技术难题。

实现思路

一个目的是提供一种可精确地检测受测样品的各种性质的原子力显微镜探针的新技术方案，第一方面，提供了一种原子力显微镜探针。该原子力显微镜探针包括探针本体和设置在所述探针本体的针尖一侧的接触体，所述接触体具有连接段和接触段，所述连接段被设置为用于与所述针尖相连接，所述接触段具有接触端面，且所述接触端面被设置为用于与受测样品相接触；其中，所述接触段为二维材料，且所述接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。可选地，所述连接段为二维材料，且所述连接段和所述接触段的材质相同。可选地，所述原子显微镜探针还包括用于将所述连接段连接在所述针尖上的连接体；所述连接体的包裹所述针尖外，且所述连接体与所述连接段邻近所述针尖的表面相连接。可选地，所述连接体在所述连接段的表面上...

保护点

1.一种原子力显微镜探针，其特征在于，包括探针本体和设置在所述探针本体的针尖一侧的接触体，所述接触体具有连接段和接触段，所述连接段被设置为用于与所述针尖相连接，所述接触段具有接触端面，且所述接触端面被设置为用于与受测样品相接触；其中，所述接触段为二维材料，且所述接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。

特征

1.一种原子力显微镜探针，其特征在于，包括探针本体和设置在所述探针本体的针尖一侧的接触体，所述接触体具有连接段和接触段，所述连接段被设置为用于与所述针尖相连接，所述接触段具有接触端面，且所述接触端面被设置为用于与受测样品相接触；其中，所述接触段为二维材料，且所述接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。2.根据权利要求1所述的原子力显微镜探针，其特征在于，所述连接段为二维材料，且所述连接段和所述接触段的材质相同。3.根据权利要求1所述的原子力显微镜探针，其特征在于，所述原子力显微镜探针还包括用于将所述连接段连接在所述针尖上的连接体；所述连接体的包裹所述针尖外，且所述连接体与所述连接段邻近所述针尖的表面相连接。4.根据权利要求3所述的原子力显微镜探针，其特征在于，所述连接体在所述连接段的表面上的投影面积小于所述连接段与所述连接体相连接的表面的面积。5.根据权利要求3所述的原子力显微镜探针，其特征在于，所述连接体为导电胶或非导电胶。6.根据权利要求3至5任一项中所述的原子力显微镜探针，其特征在于，所述针尖与所述连接段的表面相接触。7.一种原子力显微镜，其特征在于，包括微悬...